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硅片的等级标准
发布时间:2022-03-29

硅片的等级标准

硅片的检测
版本1  弯曲是指有效面积内有规律的发生形变,翘曲是指有效面积内局部发生形变。
A级B级C级D级E级
线痕:
TV:
TTV:
孪晶:
多晶:
裂纹、裂痕:
应力:
空洞:
缺角:
V型缺口:
弯曲度翘曲度:
硅多晶线性尺寸长度:
无或轻线



不存在多晶






6≦L≦100mm
≦10μm,≦5条
≦20μm
≦15

不存在多晶





≦,50μm
6≦L≦100mm
≦20μm,≦10条
≦20μm
≦30

不存在多晶





≦75μm
6≦L≦100mm
≦30μm,≦15条
≦20μm
≦50

不存在多晶





≦100μm
6≦L≦100mm
≦50μm
>20μm
>50

存在多晶

严重(可能碎裂)



>100μm
L<6或L>100mm
一、         优等品
1:硅片表面光滑洁净
2:TV:220±20um 。
3:几何尺寸:
边长:125±0.5mm;对角150±0.5mm、148±0.5mm、165±0.5mm;
边长:103±0.5mm、对角:135±0.5mm;
边长:150±0.5mm、156±0.5mm、对角:203±0.5mm、200±0.5mm、。
同心度:任意两个弧的弦长之差≤1mm
垂直度:任意两边的夹角:90°±0.3
二、合格品
一级品:垂直度:任意两边的夹角:90°±0.5
二级品:1:表面有少许污渍、线痕。凹痕、轻微崩边。
2:220±30um ≤TV≤220±40um。
3:凹痕:硅片表面凹痕之和≤30um
4:崩边范围:崩边口不是三角形, 崩边口长度≤1mm ,深度≤0.5mm
5:几何尺寸:
边长:125±0.52mm;对角150±0.52mm、148±0.52mm、165±0.52mm;
边长:103±0.52mm、对角:135±0.52mm;
边长:150±0.52mm、156±0.52mm、对角:203±0.52mm、200±0.52mm、。
同心度:任意两个弧的弦长之差≤1.5mm
垂直度:任意两边的夹角:90°±0.8
三级品:
1:表面有油污但硅片颜色不发黑,有线痕和硅洛现象。
2:220±40um ≤TV≤220±60um。
3:硅落:整张硅片边缘硅晶脱落部分硅晶脱落。
三、不合格品
严重线痕、厚薄片:TV>220±60um。
崩边片:有缺陷但可以改¢103的硅片
气孔片:硅片中间有气孔
外形片:切方滚圆未能磨出的硅片。
倒角片(同心度):任意两个弧的弦长之差>1.5mm
菱形片:(垂直度):任意两边的夹角>90°±0.8
凹痕片:硅片两面凹痕之和>30um
脏片:硅片表面有严重污渍且发黄发黑
尺寸偏差片:几何尺寸超过二级片的范围。
注:以上标准针对的硅片厚度为220um 。


硅片等级分类及标准(150*150)
一、 优等品(Ⅰ类片)
1、  物理、化学特性
①型号:P    晶向[100]±1°
②氧含量:≤1.0X1018at/cm3
③碳含量:≤5X1016 at/cm3
④勺子寿命:T=1.3—3.0us(在测试电压≥20mv下裸片的数据)
⑤电阻率:0.9—1.2、1。2—3.0 、3.0-6.0Ω/cm
⑥位错密度:≤3000个/cm
2、几何尺寸:
①边长:125*125±0.5mm
②对角:150*150±0.5mm
③同心度:任意两弧长之差≤1mm
④垂直度:任意两办的夹角90°±0.3°
⑤厚度:200±20 um,(中心点厚度≥195um,边缘四角厚度≥195um)
180±20 um,(中心点厚度≥175um,边缘四角厚度≥160um)
⑥TTV: ≤30um
⑦弯曲度:≤40um
3、表明指标:
① 线痕:无可视线痕
②目视表面:无粘污、无水渍、染色、白斑、指印等
③无崩边:无可视裂纹、边缘光滑、目视无翘曲

二、合格品(Ⅱ类片)
2、  物理、化学特性
①型号:P    晶向[100]±1°
②氧含量:≤1.0X1018at/cm3
③碳含量:≤5X1016 at/cm3
④勺子寿命:T=1.3—3.0us(在测试电压≥20mv下裸片的数据)
⑤电阻率:0.5-0.8Ω/cm
⑥位错密度:≤3000个/cm
2、几何尺寸:
①边长:125*125±0.5mm
②对角:150*150±0.5mm
③同心度:任意两弧长之差≤1.5mm
④垂直度:任意两办的夹角90°±0.3°
⑤厚度:200±20 um,(中心点厚度≥195um,边缘四角厚度≥180um)
180±20 um,(中心点厚度≥175um,边缘四角厚度≥160um)
⑥TTV: ≤30um
⑦弯曲度:≤40um
3、表明指标:
① 线痕:无明显线痕、触摸无凹凸感。
③崩边范围:崩边口不是“V”型,长X 深≤1X0.5mm ,无可视裂纹、边缘光滑、目视无翘曲

三、 等外品(Ⅲ类片)
3、  物理、化学特性
①型号:P/N    晶向[100]±3°
②氧含量:≤1.0X1018at/cm3
③碳含量:≤5X1016 at/cm3
④勺子寿命:T<1.0us(在测试电压≥20m下裸片的数据)
⑤电阻率:≤0.5Ω/cm
⑥位错密度:>3000个/cm
2、几何尺寸:
①边长:125*125±1.0mm
②对角:150*150±1.0mm
③同心度:任意两弧长之差≤1.5mm
④垂直度:任意两办的夹角90°±0.5°
⑤厚度:<160um
3、表明指标:
① 有明显视线痕,触摸有凹凸感
  • 产品分类
    1. SOI硅片
      蓝宝石衬底
      硅片
      石英片
      产品级半导体硅片
      测试级硅片
      调试用硅片
      半导体硅片
      锗片
      晶圆切割
      砷化镓基片
      硅片切割工艺
      微纳加工
      玻璃晶圆
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